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iMOXS测量系统

iMOXS测量系统

简要描述:
iMOXS测量系统使用电子显微镜的现有探测器,能够以较低的成本通过选定法兰与所有现有类型的SEM结合。您可在SEM的电子源与额外的X射线源之间进行选择,从而利用一台设备对样品进行 X 射线荧光分析与电子束微量分析。通过利用这两种方法的优势,您能够以非常高的分辨率检测低浓度元素。

更新时间:2021-09-26

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厂商性质:代理商

生产地址:

iMOXS测量系统产品介绍:

        借助模块化X射线源iMOXSIfG 模块化X射线源),您可以轻松扩展您的扫描电子显微镜(SEM)的功能。iMOXS 使用电子显微镜的现有探测器,能够以较低的成本通过选定法兰与所有现有类型的SEM结合。您可在SEM的电子源与额外的X射线源之间进行选择,从而利用一台设备对样品进行 X 射线荧光分析与电子束微量分析。通过利用这两种方法的优势,您能够以非常高的分辨率检测低浓度元素。

iMOXS测量系统特性:

1、模块化结构设计:X射线管和X射线光学器件能够依据特定要求轻松调整

2、简单操作:可通过SEM监控器轻松调整并查看测量位置

3、可通过选定法兰轻松安装到所有现有原子力显微镜上

4、适用于分析低至10 µm的结构:高质量的多毛细管光学器件可将 X 射线聚焦在小型测量区域上。

5、表面下方检查:即使表面下方深处的材料也能测量

应用:

1、SEM 映射:快速概览样品的元素成分;找出SEM无法看到的元素

2、故障分析,材料失效与材料疲劳测试

3、在 SEM 中直接进行材料分析,例如测定铝合金中的硅与锌比例

4、鉴定分析

5、ppm 级的痕量元素证明

检测重元素 (Z > 18)

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