美国合金无损X-200分析仪是SciAps诸多型号中性能与价格好的一款产品。它使用了性能的SDD 探测器，高度优化的X射线管和探测器之间的几何结构，同时改进了散热性、减轻了重量，提高耐用性。在Android操作系统上运行WIFi和软件，轻松实现智能手机的高速度、连接性和数据管理。
●重量轻，仅1.4Kg(含电池)；
●全新散热设计，可在高达43℃以上 环境温度连续工作；
●改进的内部电路设计；
●全新外壳设计和金属部件升级 最新的软件界面和校准。
美国合金无损X-200分析仪技术参数：
重量 | 1.40kg(含电池) |
外形尺寸 | 238mmx283mmx84mm |
插拔式可充电锂电池，可在设备内部充电或使用外部充电器充电，交流电源 | |
显示屏 | 5英寸彩色触摸屏，智能手机式显示屏-PowerVR SGX5403D图形 |
样品监测 | 内部摄像头，用于在分析前和分析期间查看样品，以便正确对准样品。 微距相机，用于扫描二维码或条形码以及照片文档和报告生成。 |
通讯/数据传输 | Wi-Fi、蓝牙、USB可连接到大多数设备，包括SciAps Profile Builder PC软件。 提供SciAps云数据管理选项 |
激发源 | 6-40KV,200uA铑靶用于合金分析，6-50kV,200金靶用于其他大多数应用 |
探测器 | 20mm²硅漂移探测器(有源区),135eV分辨率FWHM,5 . 95Mn K- a线。 |
X射线滤光片 | 用于光束优化的x6滤光片滤光轮 |
处理器 | ARM Cortex-A9双核/1.2GHz内存：1GB DDR2 RAM,1GB NAND |
脉冲处理器 | 14位数模转换，80MSPS采样率，8K通道MCA,USB2.0高速数据传输至主处理器； FPGA应用数字滤波用于高吞吐量脉冲处理(50 nS-24 uS峰值时间) |
校准方法 | 基本参数、康普顿归一化和/或康普顿归一化用于合金分析。 地球化学、环境和土壤校准 |
校准检查 | 内部316不锈钢标准样品，用于校准验证和能量标度验证 |
使用环境 温度范围 | -12℃-55℃ |
安全性 | 密码保护使用(用户级别)和内部设置(管理员) |
规范 | CE,RoHS,USFDA认证，符合加拿大RED Act法规。 |
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