分体测试涂层测厚仪

分体测试涂层测厚仪QCC930技术参数：

测量范围:(0~1250)μm(F1、N1 测头)F400 测头可以检测微小工件，F10 测头可达1 0mm ;

分辨率:0.1μm(F1、N1 测头);

示值精度:土(2%H+1)μm;H为被测涂层厚度;

显示方法:128*64 点阵液晶 LCD;

存储容量:可存储5组(每组最多100个测量值)测量数据;

单位制:公制(μm)、英制(mil)，可自由转换;

工作电压:3V(2节5号碱性电池);

持续工作时间:大于 200 小时(不开背光时);

通讯接口:USB 通讯接口，可与PC机连接、通讯;

外形尺寸:115mmX67mmx31mm;

整机重量:340g。

分体测试涂层测厚仪QCC930功能特色：

有多种测头类型可供选择，通过选择相应的测头，既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖；

层的厚度，又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；

测头接触部件镀硬铬或为红宝石，经久耐用。

自动识别探头

可设定上下限值，测量结果大于等于上下限数值时,仪器会发出相应的声音或闪烁灯提示；

通过屏显或蜂鸣声对错误进行提示；

设有五个统计量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(N0.)、标准偏差(S.DEV)；

具有测头零点校准、一点校准、两点校准功能，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；

可选择配备微机软件，具有传输测量结果、测值存储管理、测值统计分析、打印测值报告等丰富功能通讯功能，可与PC连机、通过电脑端软件分析数据、实行打印报告等；

采用 ABS 塑料外壳，小巧、便携、坚实耐用，适用于恶劣的操作环境，抗振动、冲击和电磁干扰。

工作原理

磁性测厚法：适用于测量磁性金属基体如钢、铁等上非磁性涂层的厚度，利用磁铁与导磁钢材间吸力和距离的比例关系，或依据从测头经非铁磁覆层流入铁磁基体磁通、磁阻大小测定覆层厚度。

涡流测厚法：用于测量导电金属上非导电层厚度，测头线圈产生的电磁场使靠近的导体形成涡流，涡流大小以反射阻抗体现，从而反映出非导电覆层厚度。