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WLD-4C光电直读光谱仪

WLD-4C光电直读光谱仪

简要描述:
WLD-4C光电直读光谱仪可用于多种基体分析:黑色金属:Fe、Co、Ni、Ti;有色金属Cu、AI、Pb、Mg、Zn、Sn。采用高集成化采集和控制系统,自动化程度高。仪器结构设计合理,更加小型化、集成化。分析速度快、重复性好、稳定性好。采用高重复性、高稳定性的激发光源,激发频率可在150-600Hz之间变化,可根据用户所分析材质选用,已达到Z佳的分析效果。

更新时间:2023-07-06

访问量:1922

厂商性质:代理商

生产地址:

WLD-4C光电直读光谱仪

WLD-4C光电直读光谱仪

一、特点:
(1)采用高集成化采集和控制系统,自动化程度高。
(2)分析速度快、重复性好、稳定性好。
(3)仪器结构设计合理,更加小型化、集成化。
(4)可用于多种基体分析:黑色金属:Fe、Co、Ni、Ti;有色金属Cu、AI、Pb、Mg、Zn、Sn。
(5)采用高重复性、高稳定性的激发光源,激发频率可在150-600Hz之间变化,可根据用户所分析材质选用,已达到*的分析效果。
(6)采用Windows系统下的中文操作软件,方便简捷。
(7)建有数据库,可通过网络远程传输数据。
(8)抗震性能强,不需作防震基础。
(9)采用局部恒温,既保证了仪器的正常运行,又降低了对环境的要求。
试验室条件:
  •环境 温度20℃±5℃,相对温度不大于70%
  •氩气 要求纯度优于99.999%
  •电源 AC 380V±10% 50Hz 3KW,三项四线配置
  •地线 不得借用其它地线,必须,要求接地电阻小于2Ω。
二.
性能指标  
激发光源:
   电源电压:50Hz、220V±10%
输入功率:1.0KVA
•分光仪系统
   分析波段范围:175-450nm
   色散率:0.55nm/mm
   凹面光栅:
     曲率半径:750mm
     刻划密度:2400线/mm
   允许zui多通道:36个
   分光仪局部恒温:30℃±0.1℃
•测控系统
   测量方式:分段积分
   测量重现性:RSD≤0.2%
•数据处理系统
   计算机:采用工控嵌入式系统、液晶显示屏
应用软件:采用Windows系统下的中文操作软件

我公司的其他产品:直读光谱仪,环境试验机,硬度计,探伤仪,影像测量仪,测温仪,涂层测厚仪,超声波测厚仪,对中仪,显微镜,轴承加热器,三坐标,现场动平衡仪,粗糙度仪,理化分析仪等近千种检测设备,欢迎各位顾客点击查询或是。



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