四探针探头的选择

四探针电阻率方阻测试︱四探针探头的选择

四探针电阻率方阻测试︱四探针探头的选择： 四探针探头是四探针法测试电阻率/方阻测试系统的关键部件。探头通过四根探针，以适当的压力和点阵形式与样品接触，连接四探针仪器后，实现四探针法电流的加载，电压的取样。应根据样品的物理特性，如是固体还是粉末，是一般硅片、金属等硬质材料还是柔性薄膜、涂层、ITO膜类材料，是单一导电层材料还是复合导电层，样品的尺寸大小等条件来选择探头的压力和点阵形式，选择型号。  表2《四探针探头型号规格特征选型参照表》 序号 型号 名称 特征图片 规格参数 选用场合 1   ST2253-F01 钨针直线四探针探头      直线四探针针距：1+1+1，探针：碳化钨针 硅片、金属等硬材料电阻率/方阻测试 2   ST2558A-F01 光伏电池片方阻直线四探针探头 直线四探针针距：2+2+2，探针：长钢尖针 硅材料光伏电池片方阻测试 3   ST2558A-F02 薄膜方阻刀型测试台 刀型测试台刀距100，刀宽100 柔性薄膜、金属涂层膜方阻测试 4   ST2558B-F01 薄膜方阻直线四探针探头 直线四探针针距：2+2+2，探针：镀金磷铜半球形针尖 柔性薄膜、金属涂层膜、ITO膜电阻率/方阻测试   5   ST2558B-F02 箔上涂层电阻率方阻四端子探头 针距8，直径4探针：圆柱平端面   箔上涂层电阻率/方阻测试   6   ST2558B-F03 薄膜方阻直线四探针探头   直线四探针针距1+1+1，探针：镀金磷铜半球形针尖 柔性薄膜、金属涂层膜、ITO膜电阻率/方阻测试   7   ST2571A-F01 薄膜方阻矩形四探针探头   矩形四探针针距1X1探针：碳化钨针 硅片电阻率和方阻仪   8   ST2571A-F02 薄膜方阻矩形四探针探头 矩形四探针针距1X1探针：镀金磷铜半球形针尖 柔性薄膜、金属涂层膜、ITO膜电阻率/方阻测试   9   ST2571A-F03 薄膜方阻矩形四探针探头 矩形四探针针距2X2探针：镀金磷铜半球形针尖 柔性薄膜、金属涂层膜、ITO膜电阻率/方阻测试