QC920超声测厚仪原理介绍

本文介绍的是可精准测量多种材料厚度及声速的一款常规超声测厚仪，核心用于各类超声波良导体材料的厚度检测，同时支持声速反测，适配工业、科研等多种场景，操作便捷且测量精准。

该仪器基于超声波脉冲反射原理工作：探头发射的超声波脉冲穿透被测物体，到达材料分界面时反射回探头，仪器通过精确测算超声波传播时间，进而确定材料厚度。

其核心优势的是适配多种测量场景，可测量金属（如钢、铸铁、铝、铜等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维等各类超声波良导体的厚度；可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的双晶探头，灵活适配不同被测材料。

仪器具备双项测量功能，已知声速可测厚度，已知厚度可反测声速，还能自动记忆材料代码和声速值，提升测量精度与效率；拥有探头零点校准、两点校准功能，可自动修正系统误差，搭配耦合状态提示，便于使用者掌握探头与被测物体的贴合情况。

此外，仪器配备LED背光显示，适配光线昏暗环境，还有剩余电量指示功能，可实时查看电池状态；数据输出方式多样，支持USB、RS-232C数据线与PC连接采集数据，可选配蓝牙数据输出。